什么樣的設(shè)計(jì)缺陷會對檢驗(yàn)檢測有影響

元器件間距過小。

較高元器件附近未留足空間，飛針等設(shè)備無法操作。

測試點(diǎn)隱藏或遮蔽（如測試點(diǎn)設(shè)計(jì)在元器件底部）而無法接觸電測試點(diǎn)。

測試點(diǎn)尺寸、間距過小和焊盤可焊性涂層材料用OSP。